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电子产品高低温运行试验操作方法

作者: salmon范 编辑: 瑞凯仪器 来源: xh-studios.com 发布日期: 2019.08.17
    试验条件:将电子产品放入高低温试验箱通电老化
    高温参数设置:温度45℃、湿度80% RH、时间24 hrs
    低温参数设置:低温0℃、时间24 hrs
    试验方法:
    试验一:高温运行
    1、样品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内,

    2、箱内温度逐渐升温至所设置的温度,当电子产品达到温度稳定后,接通电源持续工作16小时,

    3、样品断开电源,箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下,

    4、恢复两小时;
    5、对试验产品进行全方面的检测。
    试验二:低温运行
    1、电子产品应在不包装、不同点和正常工作位置的状态下放入具有室温的试验箱内;,
    2、高低温试验箱内温度逐渐降低至所设置的温度,当样品达到温变稳定后搁置2小时,然后接通电源持续工作1小时;
    3、样品断开电源,试验箱内温度降低至正常试验大气条件范围内的常温常压下,
    4、箱内温度上升至正常试验大气条件范围内的常温常压下,
    5、恢复两小时;
    6、对试验产品进行全方面的检测;判定标准:
    试验结束后,将样品拿入室温中恢复至少或以上,再对样品进行外观、功能检验产品外观应无损、功能正常、结构件与控制元件应完整、无机械损伤。
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