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HAST试验箱为何成为集成电路IC可靠性测试的佳选?

作者: salmon范 编辑: 瑞凯仪器 来源: xh-studios.com 发布日期: 2020.06.22
    目前,在集成电路IC领域,环境可靠性测试设备主要有高低温试验箱以及HAST试验箱。但为什么HAST试验箱会成为集成电路IC可靠性测试的佳选呢?这由于HAST试验箱结合压力、湿度、湿度条件的高加速试验,在高压条件下加速湿气渗透到外外部保护物料(塑封料或丝印)或沿外保护物料与金属导电层之间界面渗入,本测试用于识别封装内部的失效机制,并且是破坏性的。
    高低温试验箱可分为高低温运行测试、高低温贮存测试、高低温交变测试、高低温循环测试、温度冲击测试等,虽然可测试的项目较多,可测试集成电路IC在不同温度条件下的使用寿命,但只是单一的温湿度测试不够精确的测试产品在气压下的使用情况。而HAST高压加速老化测试集温度-湿度-压力(非饱和可调)一体,多方面测试集成电路IC,评估产品的失效机制。

    高低温试验箱的产品优势:

    1、极限测试温度可达300℃,低温-200℃,电耗低;
    2、低温长期1000小时以上不结霜;

    3、可编程控制,可通过互联网、WIFI、手机APP等监控设备运行情况。

高低温试验箱

    HAST试验箱的产品优势:

    1、湿度可调式温度-湿度-压力一体试验设备,测试稳定性高;
    2、可配置多个测试端口供给用户产品带电测试;
    3、设备升温时自动预排空气洁净度,确保箱内纯净度;

    4、箱体采用耐高压设计技术,确保设备、操作人员安全。

HAST高压加速老化试验箱

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