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微电子器件常用的低气压试验标准

作者: salmon范 编辑: 瑞凯仪器 来源: xh-studios.com 发布日期: 2020.10.31
    通常,微电子器件产品使用如下几个低气压试验标准:
    1)CJB 150.2A-2009《军用装备实验室环境试验方法第二部分低气压(高度)试验》;
    2)GJB 360B-2009《电子及电气元件试验方法方法105低气压试验》( 等效美军标MIL-STD- 202F);
    3)GJB 548B-2005 《微电子器件试验方法和程序方法1001低气压(高空作业)》(等效美军标MIL-STD-883D);
    4)CB/T 2421-2008《电工电子产品基本环境试验总则》;
    5)GB/T 2423.21-2008 《电工电子产品基本环境试验规程试验M低气压试验方法》;
    6)CB/T 2423.25-2008 《电工电子产品基本环境试验规程试验ZAM低温/低气压综合试验方法》;
    7)CB/T 2423.26-2008 《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM高温/低气压综合试验方法>;
    8)CB/T 2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验ZAMD高温/低气压综合试验方法》;
    9)CB/T 2424.15-2008《电工电子产品基本环境试验规程》。
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