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用高低温交变湿热试验箱测试闪存(Flash Memory)的方法

作者: salmon范 编辑: 瑞凯仪器 来源: xh-studios.com 发布日期: 2019.07.29

    闪存(Flash Memory)网盟彩票是一种长寿命的非易失性(在断电情况下仍能保持所存储的数据信息)的存储器,并且是非挥发性内存的一种,不需电力来维持数据的储存,可分为 NOR Flash 以及 NAND Flash 两种,前者用于储存程序代码,后者用于储存数据。闪存应用范围涵盖汽车电子、因特网、存储器、DSL 电缆调制解调器、数字电视、照相手机、蓝芽、 GPS、工业电子…等等。

用高低温交变湿热试验箱测试闪存(Flash Memory)的方法

    闪存温度测试原因

     为确保闪存可在极端温度环境(例如: 油气探勘、重工业以及航空领域)可正常实现稳健的闪存读/写操作功能,因此在出厂前需要进行温度测试,RIUKAI超高速高低温交变湿热试验箱凭借可测试温度 -70℃至+150℃,每秒可快速升温或降温30℃,温度精度±0.1℃等优势广泛应用于闪存制造行业。瑞凯仪器作为中国自主品牌环境温湿度试验设备制造商,从高低温交变湿热试验箱的研发、生产、销售及售后等一体化服务,为用户提供更便捷、可靠的技术产品。

    闪存温度测试方法

    通过与 内存 IC 测试系统搭配之下,客户可直接在极端温度下测试闪存的运作特性。根据客户实际要求,小编推荐选用RK-TH-408高低温交变湿热试验箱,并提供两种温度操作模式:高低温及恒定温湿度测试。
    闪存多采用恒定温湿度测试模式来进行交变湿热测式,将闪存与RK-TH-408使用t型热电偶相互连接,如此即可精确掌控受测物达到机台所设定之温度。闪存高低温测试方法同样适合内嵌式记忆体eMMC 温度测试。RK-TH-408高低温交变湿热试验箱可与多种类型工程机联用,进行芯片高低温测试。
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