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优质芯片(IC)可靠性测试好帮手——瑞凯仪器HAST试验箱系列

作者: salmon范 编辑: 瑞凯仪器 来源: xh-studios.com 发布日期: 2021.08.04

    芯片是电子信息产品重要的元器件,是高端制造业的是核心基石!几乎每种电子设备,电脑、手机、家电、汽车、高铁、电网、医疗仪器、机器人、工业控制等都使用芯片。

芯片可靠性测试

    由此可知,芯片在我们日常生活中充当了极其重要的角色,当然其品质也受到了人们的高度重视,但你知道一块优质的芯片需要做哪些环境可靠性测试呢?
    瑞凯仪器来告诉你吧。
    1、高低温试验:模拟IC在使用之前在一定湿度,温度条件下存储的耐久力,也就是IC从生产到使用之间存储的可靠性。
    2、高温高湿试验(THB):评估IC产品在高温,高湿,偏压条件下对湿气的抵抗能力,加速其失效进程。
    3、高压蒸煮试验(PCT):评估IC产品在高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。
    4、高低温循环试验(TCT): 评估IC产品中具有不同热膨胀系数的金属之间的界面的接触良率。方法是通过循环流动的空气从高温到低温重复变化。
    5、高温储存试验(HTST): 评估IC产品在实际使用之前在高温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。
    此外,还有一个最为重要的性能测试,即高加速温湿度及偏压测试(HAST),评估IC产品在偏压下高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。
    可是怎么知道芯片是否存在失效呢?
    那当然要使用瑞凯仪器所研制的HAST试验箱啦!

    瑞凯HAST试验箱主要应用于芯片、半导体器件、金属材料领域,通过爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。一般通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。

HAST试验箱

    HAST试验箱特征:

    1、可定制BIAS偏压端子组数,提供产品通电测试;
    2、通过电脑安全便捷的远程访问;
    3、多层级的敏感数据保护;
    4、便捷的程序入口、试验设置和产品监控;
    5、试验数据可以导出为Excel格式并通过USB接口进行传输;
    6、可提供130℃温度、湿度85%RH和230KPa大气压的测试条件;
    7、出色的温湿度精密控制逻辑,防止待测品潮湿与结露的模式选择;
    8、压力值采实际感应侦测,确保温度、湿度及压力值准确度。
    芯片不仅仅要进行环境可靠性测试,每一步品质检测关卡都要严格把控,只有符合所有性能要求的芯片才能算得上是品质优良,真正确保电子产品的稳定性和安全性。
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