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电子及电气元件高低温低气压试验方法


    1、引言
    1.1目的
    用以确定元件和材料在低气压下耐电击穿的能力;确定密封元件耐受压力差不破坏的能力;检验元件工作特性在低气压下受到的影响及低气压下的其它效应;有时候可用于确定机电元件的耐久性。
    1.2应用
    本标准是常温条件下的低气压试验。若装置元件的设备将在低温低气压及高温低气压的综合条件下贮存和使用,而且能够断定高低温和压力的综合作用是造成其失效的主要原因,常温低气压试验不能使用时,则应进行温度一压力综合环境试验。
    2、试验条件
    2.1试验压力
    有关标准应从下表中选取试验压力等级。


试验压力
    


    2.2压力容差
    按GJB360.1-87《电子及电气元件试验方法总则》中 4.4条C的规定。
    2.3试验时间
    若无其它规定,试验样品在低气压条件下的试验时间,可从下列数值中选取:
    3、对试验设备的要求
    3.1高低温低气压试验箱应满足第2章规定的试验条件。
    3.2高低温低气压试验箱应有观察窗和接线柱,以便观察和测量电性能。
    3.3高低温低气压试验箱应有压力指示器,以便测量箱内压力。
    3.4 应注意避免试验箱的辅助装置,如泵的工作液蒸气及试验箱附件(阀、绝缘物)释放的蒸气产生污染。压力恢复正常时,应注意避免空气带入灰尘或水气污染试验样品。
    4、试验程序
    4.1 预处理
    试验样品应在试验的标准大气条件下至少保持20min或按有关标准的规定。
    4.2初始检测
    按有关标准规定,对试验样品进行外观检查、电性能和机械性能检测。
    4.3试验
    4.3.1对试验期间不要求检测性能的试验样品,应在不包装、不通电和“准备使用”状态按其正常工作位置放入具有试验的标准大气条件的高低温低气压试验箱内;对于试验期间要求检测性能的试验样品,应接好电负载及其它测试仪表。并且进行检查,以确定试验样品是否具有有关标准规定的性能。然后,按有关标准规定的时间接通或关闭电源。
    4.3.2若无其它规定,以不大于10kPa/min的降压速率将试验箱内压力降到有关标准规定的值。
    4.3.3在此压力下保持有关标准规定的时间。
    4.3.4若需要,按有关标准的规定进行中间检测。
    4.3.5若无其它规定,以不大于10kPa/min的升压速率使高低温低气压试验箱内压力恢复到正常值。
    4.4 恢复
    若无其它规定,试验样品应在试验的标准大气条件下保持1~2h。
    4.5最后检测
    按有关标准的规定,对试验样品进行外观检查、电性能和机械性能检测。
    5、失效判据
    由有关标准规定。
    6、采用本标准时应规定的细则
    a.试验压力等级代号(见2.1条);
    b.试验时间(见2.3条);
    c.预处理(见4.1条);
    d.初始检测(见4.2条);
    e.安装方式和试验样品状态(见4.3. 1款);
    f.低气压条件下进行中间检测时所需的条件、其它参数(如试验电压、加电压时间)和检测项目(见4.3. 1款);
    g. 最后检测(见4.5条);
    h.失效判据(见第5章)。

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